M. O. Yoshizumi; W. F. Kirchheimer; A. K. Asbury
S. D. Lim; J. L. Touraine; M. A. Storkon; Y. S. Choi; R. A. Good
M. Goihman-Yahr; M. A. Requena; E. Vallecalle-Suegart; J. Convit
J. N. Rodriguez; R. M. Abalos; C. V. Reich; J. G. Tolentino
C. D. Enna; S. l. Moschella; D. D. Delgado; R. Dyer